全自动比表面和孔隙分析仪(BET)(3FLEX,Micromeritics)


可通过测定材料对吸附质的吸附分析材料比表面积和孔结构等信息,可提供微孔/介孔分析,用于分子筛、MOFs等材料的研究开发。

放置地点:工物馆456室

联系人:韩久利 hanjiuli@mail.tsinghua.edu.cn